軟、硬體相互搭配 半導體DC參數檢驗精準到位

由於現今半導體晶片的設計難度不斷提升,並需要更高階的測試系統描述效能特性,因此進一步提高了測試成本。在半導體檢驗當中,一般可分為結構檢驗與功能檢驗等兩個部分。結構測試可確保晶片製程無誤;功能測試則是確認晶片是否符合設計規格,並能於最後的環境中執行作業。本文所列出的硬體元件(表1),可建立結構測試主機,檢驗互補式金屬氧化物半導體(CMOS)晶片上的直流電(DC)參數。
2012 年 03 月 29 日

FOC效率提升控制技巧 無電刷直流馬達再升級

電動馬達是一種將電能轉換成機械能的機器,對現代生活至為重要,它被廣泛應用在各種領域,包括真空吸塵器、洗碗機、電腦印表機、傳真機、錄影機、機械工具、印刷機、汽車、地鐵、污水處理廠及抽水站等。
2010 年 11 月 25 日