T-Clock技術助攻 PXI實現同步整合測試

產品出廠前通常須進行許多不同測試,有的是數位訊號,有的是類比訊號,甚至有射頻(RF)訊號,但以往方式為使用大型的自動化測試系統(ATE),一台ATE幾乎可完成所有的測試,但對於現在低價產品來說,ATE售價昂貴,根本不符合成本需求,所以PXI測試平台便隨之而起;除具備由直流電(DC)、混合訊號至射頻等完整的模組化儀器外,還能快速建構整合測試系統,而要能達到整合同步測試,就需要仰賴T-Clock(TClk)技術。
2012 年 06 月 25 日