益華與imec合作完成首款5奈米測試晶片設計定案

奈米電子研究中心愛美科(imec)與益華電腦(Cadence)日前共同宣布,採用極紫外光微影製程(EUV)與193浸潤式(193i)微影技術完成首款5奈米測試晶片的設計定案(Tapeout)。 ...
2015 年 10 月 22 日