提高測試效率/產能 NI再推十六埠版WTS

物聯網(IoT)發展潮流讓裝置的通訊協議(Protocol)數量,以及測試項目的複雜度隨之高漲。國家儀器(NI)看準此一量測需求,繼今年4月的RF Roadshow推出八埠(Port)的WTS(Wireless...
2015 年 12 月 07 日

專訪NI行動裝置業務部門副總裁David Loadman PXI儀器縮減物聯網測試成本

新一代PXI無線測試系統(WTS)大幅推升行動、物聯網裝置產測效率。國家儀器(NI)發表支援多重標準、多樣待測裝置(DUT)/連接埠及高速平行測試的PXI無線測試系統,能滿足行動及物聯網設備製造商降低測試成本、提高生產效率的要求,包括高通創銳訊(Qualcomm...
2015 年 06 月 11 日

PXI擴充標準/連接埠支援 物聯網無線測試成本再降

新一代PXI無線測試系統(WTS)大幅推升行動、物聯網裝置產測效率。國家儀器(NI)發表支援多重標準、多樣待測裝置(DUT)/連接埠及高速平行測試的PXI無線測試系統,能滿足行動及物聯網設備製造商降低測試成本、提高生產效率的要求,包括高通創銳訊(Qualcomm...
2015 年 05 月 18 日