Tektronix推出LPDDR4相容測試性解決方案

2014 年 09 月 30 日

太克(Tektronix)日前宣布,推出首款適用於下一代行動記憶體技術JEDEC LPDDR4的完整實體層(PHY)和相容性測試解決方案。LPDDR4建立在目前的LPDDR3技術上,提供高達4.26Gbit/s的資料傳輸速率,並使用超低電壓核心,降低功耗約35%,有效提高如智慧型手機、穿戴式裝置和平板電腦等行動裝置的效能。


Tektronix高效能示波器總經理Brian Reich表示,不論是晶片廠商或是系統整合商,LPDDR4將使驗證程序更加複雜,並讓整個行動記憶體生態系統充滿挑戰性。Tektronix提供所需要的測試和量測工具,有效地將該技術推向市場,從高效能示波器和探棒,到涵蓋整個記憶驗證連續性的進階分析軟體。


由於僅有1.1伏特(V)的低輸入/輸出電壓、較高的資料速率,以及限制存取測試點的精巧機械設計等特性,LPDDR4也引入全新的測試和量測挑戰。在Vref、讀取資料組和寫入資料組中亦有多種變更,以執行JESD209-4規範所規定的測試,這些變更則進一步增加複雜性。


該公司提供業界完整的工具集,滿足設計工程師需要,來確認其LPDDR4設計是否合格。透過自動化設定和測試執行,新解決方案可以明顯縮短測試週期,從一個星期,甚至更長,縮短為一個小時。


太克網址:www.tektronix.com.tw

標籤
相關文章

太克自動化測試方案符合MHL CTS2.0規格

2013 年 01 月 28 日

太克自動化解決方案可供MIPI M-PHY測試

2012 年 03 月 23 日

太克提供MIPI M-PHY接收器測試方案

2014 年 02 月 07 日

賽靈思擴充20奈米產品陣容

2014 年 11 月 14 日

美光開始量產採用1z奈米技術節DRAM

2019 年 08 月 28 日

Tektronix任命Christopher Bohn出任總裁

2023 年 01 月 13 日
前一篇
戴樂格同步整流器提升小型適配器功率密度
下一篇
快捷提供中小型企業設計週期完整支援