安立知(Anritsu)宣布，國立台灣大學光電工程學研究所採用安立知MS2850A系列頻譜分析儀/訊號分析儀平台，成功應用於垂直共振腔面射型雷射(Vertical-Cavity Surface-Emitting Laser, VCSEL)測試，並且搭載與台大光電所教授吳肇欣團隊共同開發的自動測試軟體，進行雷射相對強度雜訊(Relative Intensity Noise, RIN)的驗證，為VCSEL元件開發提供自動測試方案，並將持續合作共同推動VCSEL產業發展。
由於光發射元件的發展突飛猛進且其性能優劣將會直接影響到數位及類比光通訊系統的整體效能，RIN參數評估的重要性也將與日俱增。隨著光纖傳輸系統朝向高速與多模發展，在高性能、多波長及高整合度雷射的評估中，如何快速完成RIN特性的量測將是一大挑戰。
MS2850A訊號分析儀是一款高階的訊號與頻譜分析儀組合，可支援頻率範圍為9kHz至32GHz或44.5GHz，具備卓越的動態範圍、振幅與近端相位雜訊性能，精準的平均顯示雜訊位準(DANL)適用於高速光電子元件的微小雜訊量測。藉由多種波長的光電轉換器選擇，可以實現全頻域RIN快速精準量測的目的。
台灣大學光電所教授吳肇欣表示，大數據與生物感測需求迫在眉睫，刺激光通訊與3D感測導入VCSEL速度不斷加快，安立知完整且穩定的測試平台和技術人員協助團隊共同開發RIN自動測試驗證系統，並且成功運用於VCSEL測試，期許未來持續合作以因應廣泛的雷射應用量測需求。
