太克科技提供Superspeed USB測試方案

2009 年 06 月 17 日

太克科技(Tektronix)推出適用於超高速通用序列匯流排(Superspeed USB)(USB 3.0)裝置之特性分析、除錯和自動化相容性測試的全新完整工具組。全新的選項USB-TX搭配DPO/DSA70000B示波器,提供可驗證USB 3.0發送器裝置的單鍵式解決方案,使工程師能夠以更有效率的方式,將其設計產品推出上市。此外,該公司亦推出全套的USB 3.0測試治具,讓工程師能夠執行更準確的「發送器」、「接收器」和「纜線」測試。
 



由於對資料傳輸速度的需要愈來愈快,USB3.0的效能表現遠較目前的USB解決方案高出十倍,使系統及電路設計人員得以克服種種多重挑戰。頻寬不斷的增加帶來了重要的訊號傳輸與訊號完整性的挑戰,進而需要準確度更高且具豐富多樣功能的測試解決方案。
 



太克科技表示,USB-TX可提供完整且全面的特性分析、除錯和相容性工具組。Tektronix USB3.0測試解決方案整合獨一無二的插座型式測試治具,能在探測時盡可能接近矽晶,以提供最真實的代表性訊號。
 



太克科技網址:www.tektronix.com


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