奧寶推出專為平面顯示器製造業研發Metrology-on-AOI解決方案

2006 年 11 月 02 日

奧寶宣布推出專為平面顯示器製造業設計的新一代Metrology-on-AOI解決方案,是將高準確性的計量學運用在與自動光學檢測(AOI)相同的系統上。
 

將一部分的計量學原理運用CD/OL測量是每一個TFT-LCD製造廠確保精準的面板尺寸所必備的技術。對於每一層級內各種不同製程階段,自動光學檢測更是不可或缺。一個結合這些功能系統將可降低線上所需設備的數量,有效節省設備的資金支出、無塵室的空間以及維護成本,也可增進營運績效與品質管控。
 

奧寶亞太區顯示器部門業務副總Eitan Oppenhaim先生表示,奧寶導入此新觀念並運用在大型液晶電視製造設備,將計量技術與自動光學檢測結合於單一系統內已獲得客戶廣大迴響,客戶可以比以往更為快速建置生產線並減少成本。而建置速度對於LCD面板製造業者而言就像節省營運管銷一樣重要。很高興能再次推出另一個突破性良率管理方案,為製造業者提供顯著而立即的製造優勢,使其可在高度競爭的市場上獲利。
 

奧寶Metrology-on-AOI系統是專為顯示器製造商所設計,為先進良率管理解決方案的完整產品線之一,包括在線或離線的AOI系統與整合EYES-2020製程資料分析系統。奧寶所研發的系統己有大多數的TFT-LCD生產業者引進使用。
 

奧寶網址:www.orbotech.com
 

標籤
相關文章

AT&T選擇阿爾卡特朗訊為其網路設備供應商

2010 年 08 月 12 日

Ramtron新款F-RAM器件樣品開始供應

2011 年 11 月 01 日

世平集團以恩智浦/FPC技術推出指紋電子鎖解決方案

2017 年 05 月 26 日

意法IGBT專為軟切換優化而設計

2019 年 07 月 24 日

ST/采埃孚簽訂碳化矽元件長期供應協定

2023 年 04 月 20 日

意法STM32C0系列高效能微控制器大幅提升性能

2024 年 10 月 29 日
前一篇
2006 COMSOL多物理耦合CAE模擬研討會
下一篇
Msystems與Data I/O推出mDOC H3快閃磁碟解決方案