安捷倫(Agilent)推出兩款內插器解決方案–W4633A BGA與W3636A BGA，可結合使用快速的邏輯分析儀，對DDR4和DDR3 DRAM設計進行測試。這兩套內插器解決方案能快速而準確地擷取位元位址、指令和資料訊號，以進行設計除錯並驗證量測。
台灣安捷倫科技電子量測事業群總經理張志銘表示，客戶需要準確度更高的探量工具，以增強其新一代記憶體系統的資料速率，並且降低功耗。藉由搭配使用DDR4 BGA內插器、E5849A探棒和U4154A邏輯分析儀系統，工程師可測試資料速率遠超出目前2400Mb/s速率的DDR4記憶體。
新款W4633A BGA內插器結合E5849A探棒，可探量資料速率更高的DDR4×4或×8 DRAM設計；而利用W3636A BGA內插器，工程師可針對2G以上容量的非堆疊DDR3×16 DRAM進行探量。
新的內插器解決方案可以直接存取DDR4×4或×8 DRAM BGA焊球，如此可確保低負載，同時減少對嵌入式系統設計訊號完整性的影響。該探棒適用於現有設計，可省下規畫的時間並避免重新設計。此外，兩套新的內插器解決方案可與高速的U4154A邏輯分析儀系統搭配使用，後者提供高達4Gb/s的狀態速度，和高達2.5GHz的觸發序列速度。
安捷倫網址：www.agilent.com
