安立知向量網路分析儀新增雜訊指數量測功能

2012 年 06 月 27 日

安立知(Anritsu)針對VectorStar MS4640A及ME7838A向量網路分析儀(VNA)推出雜訊指數量測功能,為射頻/微波放大器設計者、模組開發商和製造商提供前所未有的量測功能。
 



選配MS4640A-041將使VectorStar成為唯一具備70k~125GHz雜訊指數量測功能的VNA系列,獨特的接收器設置更使30G~125GHz的量測得以有效進行。
 



雜訊指數量測可使測試工程師確定雷達、無線通訊和數位通訊應用中來自零組件的潛在訊號雜訊比衰減。這些工程師往往需要在更高效能的設計要求,及較短的時間及較少預算等相互衝突的需求間取得平衡。
 



可使用於VNA的雜訊指數量測接收器(執行於125GHz),著重於提升雜訊效能和降低對源阻抗的敏感性之獨特設計,為廣泛多樣化主動元件之高品質微波和毫米波雜訊指數量測提供強大功能。
 



對於缺乏經驗的測試工程師而言,裝配雜訊指數測試裝置是極具挑戰性的工作。為確保足夠的靈敏度,以達到高品質量測,往往需在量測接收器前加裝前置放大器和濾波器。如果放大不足,可能使儀器的類比/數位轉換器產生過度抖動;但若增加太多電力或放大,壓縮可能影響量測結果。
 



以上兩個限制構成有效雜訊指數量測的範圍,並限縮使用者在選擇前置放大器和濾波器上的彈性。挾著高效能VectorStar架構的優勢,MS4640A-041可提供更廣泛的雜訊指數量測範圍及更高的配置彈性。
 



此外,安立知的技術更將簡單、低成本的終端,而非特定的雜訊源,納入成為冷源的雜訊指數量測方法之一,造就更易於使用、更具彈性的測試系統。
 



VectorStar將持續納入雜訊指數量測功能以進行主動元件測試。VectorStar系列已具備如獨特增益壓縮功能的特性,讓使用者可在401頻率範圍內顯示增益壓縮,以在DUT的操作頻寬進行效能特性描述。
 



若需要於晶圓層次進行主動元件測試,可利用VectorStar平台之源的主動和被動調整及負載阻抗,以協助掌握基本和諧波內容,確保測試過程中的最佳DUT效能。
 



安立知網址:www.anritsu.com

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