愛德萬推出新款太赫茲波光學取樣系統

2014 年 04 月 24 日

愛德萬測試(Advantest)推出最新太赫茲波光學取樣系統TAS7400TS,可提供彈性架構,方便使用者自由配置太赫茲波源模組及偵測模組,打造理想的多功能環境。


新款光學取樣系統為低價多用途太赫茲波光譜分析系統TAS7400系列的最新產品,使用者可在平台上隨需求進行配置,利用光纖引線將太赫茲波源及偵測模組連結到主機,且不受限地加裝這些模組,任意調整量測區;此外,也可在量測環境中加入取樣加熱系統、低溫系統、自動化取樣處理等相關輔助裝置,幫助太赫茲波研究開發工作進行,進而開啟太赫茲波技術未來發展的新契機。


TAS7400TS平台可結合三種不同波源模組,這三種模組分別涵蓋不同波段,TAS1110量測頻率範圍為0.1~4THz(基本)、TAS1120量測頻率範圍為0.03~2THz(低頻)、TAS1130量測頻率範圍為0.5~7THz(寬頻)。這些模組也可在TAS7500TS平台上通用。


愛德萬測試網址:www.advantest.com

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