半導體測試設備供應商愛德萬測試即將於3月26至28日在上海新國際博覽中心舉辦的2025中國國際半導體展(SEMICON China)展示最新測試解決方案，重點介紹旗下廣泛多元的先進測試科技，涵蓋先進記憶體、汽車、RF無線通訊和CMOS影像感測器等應用。
愛德萬測試展區位在N4第4431號攤位，今年展出重點是推動創新和日常生活不可或缺之先進技術研發的關鍵解決方案，展示資訊如下：
– 最新T5801超高速DRAM測試系統，專為支援GDDR7、LPDDR6和DDR6等高速記憶體最新技術而設計。
– 最新V93000 EXA Scale測試系統解決方案，包括Wave Scale RF20ex高頻寬RF IC測試卡、PMUX02先進功率多工器、DC Scale XHC32超高電流電源供應卡、以及高速Pin Scale Multilevel Serial HSIO元件。
– T2000 SoC測試系統配備快速開發套件(RDK)，針對包括汽車、電源類比和CMOS影像感測器等所有系統單晶片(SoC)。
– T6391測試系統，針對高速、高精準度及高電壓量測需求設計，以測試新興顯示器驅動IC。
– ACS TE-Cloud一站式測試工程解決方案平台，配備全套整合化軟體工具，針對V93000之測試程式開發提供完整測試研發環境。
– ACS即時資料基礎設施(ACS RTDI)解決方案平台，可在幾毫秒內自動將洞見轉化為同一測試插入中的可執行生產步驟，從而最佳化良率、提升品質、縮短上市時間。
除了產品展示外，愛德萬測試亦將參與今年的技術議程。來自愛德萬測試的多名講者將於SEMICON China「積體電路科學技術大會(CSTIC)」發表演說，主題包括ATE測試機台運作之最佳化、PMIC元件之測試挑戰、低成本多工器解決方案、SoC類比測試等等。
