愛德萬測試(Advantest)宣布推出專為V93000平台設計的最新LinkScale系列數位通道卡，能針對先進半導體進行基於軟體的功能測試與USB/PCI Express(PCIe)SCAN測試。該系列全新通道卡能協助客戶因應這些介面在完整的協定模式下運作的測試挑戰，並為V93000平台提供近似系統級測試的能力。
最新Link Scale卡與受測元件透過標準高速串列介面溝通，因此使用者能在元件處於常態運作模式下，採用與最終應用相似的韌體與驅動程式，對其進行測試。這樣的方式所帶來的高效率能有效控制測試時間，且額外的功能涵蓋率也有助於達成在最新製程節點製造之複雜元件所要求的嚴格品質標準。Link Scale卡亦支援最先進的偵錯工具(譬如Lauterbach TRACE32)，改善晶片首次上線流程，並加快從初期生產進展到全面生產的速度。
此外，晶片前期功能測試藉由可攜式測試與刺激標準(Portable Test and Stimulus Standard, PSS)現在可重複使用了，主要的電子設計自動化(EDA)工具都可支援此項標準，不但可大幅提升測試品質並縮短上市時間。新通道卡亦為主軟體(提供可客製化的運行環境，讓V93000系統可以執行完整的軟體架構以達成真實應用的測試所需。此設計促進測試資料在不同環境中的交換，譬如晶圓分類、最終測試與系統級測試。
益華電腦(Cadence)系統與驗證部門事業與客戶開發副總Yogesh Goel指出，在愛德萬測試與益華電腦攜手合作下，客戶可在量產製造的階段，藉由Cadence Perspec系統驗證工具，重複利用設計驗證時所使用的軟體驅動功能壓力測試，更可藉由已廣泛建構好的工具鏈，自動產生測試所需及偵錯，不但可提高測試涵蓋率並可縮短執行時間。
