是德展示全新400G/PAM-4測試解決方案

2017 年 01 月 19 日

是德科技(Keysight)日前宣布將於2月1日至2日,在美國加州聖克拉拉會議中心舉辦的DesignCon 2017大會中,展出其高速數位解決方案。是德科技技術專家和應用工程師,將展示最先進的設計和測試解決方案。這些解決方案專為克服當今最棘手的高速數位量測挑戰而設計。是德科技為2017年DesignCon的主要贊助機構。


此外,是德科技產業專家,將主持8場免費的40分鐘教育講座,探討的主題包括USB TYPE-C、訊號和電源完整性、400G/PAM-4、PCIe4、DDR4/LPDDR4、資料分析,以及IBIS -AMI模擬基本原理。


於此大會中,是德科技將展示最新的USB Type-C發射器和接收器測試解決方案,可正確地評估並驗證USB設計。另外,還將展出使用配備TDR選項的網路分析儀的纜線和連接器測試解決方案。並展示完整的工具和技術,工程師可用來測試PCI Express 4.0裝置,可全面滿足發射器和接收器的實體層Gen4要求。


展出內容還包括一致的訊號和電源完整性分析解決方案,包括可快速提供洞察力的全新設計和測試技術,以及新的通道模擬技術。是德的實體層測試系統(PLTS)2017是新的軟體版本,具有PAM-4眼圖、通道運作邊限(COM),和適用於製造自動化應用的SCPI命令介面。而新的數位互聯測試系統參考解決方案,則可用來啟動多埠互聯產品的訊號完整性特性分析。

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