是德科技新內插式探棒解決方案打破空間狹小的限制

2015 年 09 月 10 日

是德科技(Keysight)日前宣布推出BGA(球柵陣列)內插式探棒解決方案–W4636A DDR4×16 BGA,讓使用者可使用邏輯分析儀測試DDR4×16 DRAM(動態隨機存取記憶體)設計,快速準確地擷取位址和指令信號,以及資料信號的子集,以便對資料傳輸速率高達2,400 Mb/s的設計進行除錯並執行效能驗證量測。


台灣是德科技總經理張志銘表示,使用者需要多元的DDR4 BGA內插式探棒選擇,以便因應各種不同系統設計的要求。利用該內插式探棒和U4154B邏輯分析儀系統,使用者可在探量空間狹小的限制下,全面測試系統所使用的DDR4×16 DRAM。


新方案讓使用者能以低負載,直接存取符合JEDEC標準的DDR4×16 96-ball DRAM,且不會減損嵌入式系統設計的信號完整性;並可與Keysight U4154B邏輯分析系統、E5847A ZIF(零插入力)探棒和U4201A纜線搭配使用,以便對DQ(資料)的ADD/CMD和子集,進行功能相符性測試、效能驗證和分析。


而Keysight U4154B邏輯分析模組具有4-Gb/s狀態速度,讓使用者能對特定事件進行可靠的觸發並且擷取DDR4訊務。若與新的DDR4內插式探棒解決方案、B4621B DDR解碼器和B4622B相符性測試軟體工具搭配使用,該模組可協助使用者洞察速度高達2,400Mb/s的上資料位元組通道,以提供記憶體產業之系統整合所需的功能性測試。


是德科技網址:www.keysight.com.tw

標籤
相關文章

賽普拉斯推出高密度72 Mbit FIFO記憶體

2011 年 06 月 21 日

Crucial NVDIMM記憶體防止斷電時資料遺失

2016 年 06 月 28 日

是德推出一系列單/雙輸出電源供應器

2019 年 06 月 25 日

是德提交3GPP協定測試案例 驗證IMS 5G NR裝置

2020 年 11 月 02 日

是德公布物聯網創新大賽資訊

2019 年 06 月 28 日

是德/聯發科達成R-16實體層互通性開發測試

2020 年 10 月 06 日
前一篇
提高半導體製程潔淨度 HC管線用加熱器設計再創新
下一篇
R&S參與4G+實驗網計畫